بررسی تصاویرمیکروسکوپ گمانه روبشی با استفاده از تبدیل موجک

فصل اول : طبقه­ بندی روش­های تعیین مشخصات مواد براساس نحوه عملکرد

مقدمه

۱-۱ روش­های میکروسکوپی

۱-۲ روش­های براساس پراش

۱-۳ روش­های طیف سنجی

۱-۴ روش­های جداسازی

۱-۵سوزن­ها

۱-۶ نحوه بر هم کنش سوزن با سطح

۱-۷ مدهای تماسی

۱-۸ میکروسکوپ گمانه ی روبشی SPM

۱-۸-۱ میکروسکوپ­های پروبی- روبشی

۱-۸-۲ میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)

۱-۸-۳ میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)

۱-۸-۴ میکروسکوپ روبشی جریان تونلی

۱-۸-۵ میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)

۱-۸-۶ میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM)

۱-۸-۷ میکروسکوپ روبشی تونلی (STM) :

فصل دوم : لایه­ نشانی

مقدمه

۲-۱ تعریف لایه­نشانی

۲-۲ تاریخچه لایه­های نازک

۲-۳ تقسیم بندی لایه­ها از نظر ضخامت

۲-۴ تقسیم بندی لایه­ها بر اساس رسانایی

۲-۵ عوامل مؤثر در کیفیت لایه­های نازک

۲-۶ فرایندهای لایه­نشانی

۲-۶-۱  فرایند تبخیر فیزیکی

۲-۶-۲ روش پراکنشی (کند و پاش)

۲-۶-۳ تبخیر با باریکه الکترونی(E.Beam)

فصل سوم : تبدیل فوریه ، تبدیل فوریه­ی زمان کوتاه و تبدیل موجک

مقدمه

۳-۱ تبدیل فوریه و تبدیل فوریه­ی زمان کوتاه (پنجره)

۳-۲ تبدیل موجک

۳-۳ مقیاس گذاری

۳-۴  انتقال

۳-۲-۱ تبدیل موجک پیوسته CWT

۳-۲-۲ تبدیل موجک گسسته DWT

فصل چهارم : بحث و نتایج

مقدمه

۴-۱ مواد و روش ساخت

۴-۱-۱ مواد آزمایش

۴-۱-۲ روش ساخت

۴-۲ بکارگیری موجک درتصاویر SEM

۴-۲-۱ پارامتر مقیاس

۴-۲-۲ انتخاب تبدیلات موجک

۴-۲-۳ ویژگی خانواده­ی تبدیلات موجک

۴-۲-۴ پروفایل نماینده

۴-۲-۵ پردازش تصویر

۴-۲-۶ تحلیل داده با استفاده از نمودار

۴-۲-۷ معرفی نمودارها

۴-۲-۸ رسم  نمودار داده­های مربوط به جزئیات

۴-۲-۹ رسم  نمودار تقریب مرتبه سوم